据东方晶源发布，近日，东方晶源首台8英寸关键尺寸量测装备（CD-SEM）出机国内集成电路制造和整体方案提供商燕东微电子。自年6月首台12英寸CD-SEM出机后，东方晶源在电子束量测领域再次取得重大进展。

东方晶源首台8英寸关键尺寸量测设备（型号：SEpA-c）基于东方晶源12英寸关键尺寸量测设备的技术积累，面向90nm以上技术节点的成熟工艺。具有对标12英寸主流设备的成像分辨率、百微米级大视场成像能力、多样化量测算法，可以满足客户对不同产品线、多种应用场景下的量测需求。以关键尺寸量测设备为例，目前市场上流通的8英寸设备绝大多数是二手翻新设备，具有性能指标不高及设备稳定性差等问题。东方晶源旨在解决些问题。

电子束检测（ElectronsBeaminspection，简称E-beaminspection、EBI），用于半导体元件的缺陷(defects)检验，以电性缺陷(Electricaldefects)为主，形状缺陷(Physicaldefects)次之。